Máy đo trở kháng Hioki IM7587
Nhà sản xuất: Hioki
Các tính năng chính bao gồm:
- Tần số nguồn thử 1 MHz đến 3 GHz
- Tốc độ kiểm tra nhanh nhất 0.5 msec (thời gian đo tương tự)
- 0.07% biến đổi giá trị đo được (khi đo cuộn dây 1 nH ở tần số 3 GHz)
- ± 0.65% rdg. độ chính xác cơ bản
- Kích thước thân nửa cọ và đầu kiểm tra kích thước bằng cọ
- Kiểm tra tiếp xúc toàn diện (thông qua thử nghiệm DCR, từ chối Hi-Z hoặc dạng sóng)
- Thực hiện quét tần số, quét mức và đo khoảng thời gian trong Chế độ phân tích
Mô tả
Mục lục
Máy đo trở kháng Hioki IM7587: Tần số 1 MHz đến 3 GHz
Hioki IM7587 là máy đo và phân tích trở kháng với dải tần số từ 1 MHz đến 3 GHz. Máy đo trở kháng Hioki IM7587 đo cực nhanh chỉ 0,5 ms và độ ổn định cao. Lý tưởng cho R & D cũng như sản xuất khối lượng lớn các hạt chip ferit và cuộn cảm chip. Được sử dụng kết hợp với Test Fixture IM9201, có thể chứa sáu kích thước SMD, IM7580-01 cho phép bạn đo lường mẫu vật một cách dễ dàng và đáng tin cậy.
Máy đo trở kháng chính hãng Hioki được nhập trực tiếp từ Nhật Bản. Có khả năng chống va đập, chống nứơc chống bụi cao. Đây là loại máy chuyên đo đại lượng cản trở dòng điện với độ chính xác cao.
Máy đo trở kháng Hioki IM7587 đo cực nhanh
Máy đo trở kháng Hioki IM7587 là thiết bị đo trở kháng nối tiếp với máy đo IM3536. Cả hai đều có giải tần từ 1 đến 3Ghz. Thiết bị đo trở kháng IM7587 đưọc ứng dụng vào thử nghiệm các linh kiện điện từ. Ngoài ra Hioki còn mang tới các thiết bị đo trở kháng khác như: Máy phân tích trở kháng IM7580A chuyên đo và phân tích trở kháng, Thiết bị đo LCR Hioki IM3536 đây là thiết bị chuyên để đánh giá các đặc tính của linh kiện.
Bộ phân tích trở kháng IM7587 cung cấp thời gian đo cực trị 0.5ms trên dải tần số 1MHz đến 3GHz và tính ổn định cao, làm cho nó trở nên lý tưởng cho nghiên cứu và phát triển cũng như sản xuất hạt chip ferrite và bộ cảm ứng cuộn cảm.
Tính năng của máy đo trở kháng IM7587
Các tính năng chính bao gồm:
- Tần số nguồn thử 1 MHz đến 3 GHz
- Tốc độ kiểm tra nhanh nhất 0.5 msec (thời gian đo tương tự)
- 0.07% biến đổi giá trị đo được (khi đo cuộn dây 1 nH ở tần số 3 GHz)
- ± 0.65% rdg. độ chính xác cơ bản
- Kích thước thân nửa cọ và đầu kiểm tra kích thước bằng cọ
- Kiểm tra tiếp xúc toàn diện (thông qua thử nghiệm DCR, từ chối Hi-Z hoặc dạng sóng)
- Thực hiện quét tần số, quét mức và đo khoảng thời gian trong Chế độ phân tích
Các thông số kỹ thuật của thiết bị đo Hioki IM7587
| Chế độ đo lường | Chế độ LCR, chế độ phân tích (quét với tần số đo và mức đo lường), chế độ đo liên tục |
|---|---|
| Thông số đo | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| Phạm vi đo được | 100 mΩ đến 5 kΩ |
| Dải hiển thị | Z: 0.00 m đến 9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m đến 9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n đến 9.99999 GH) / Q: ± (0.00 đến 9999.99) θ: ± (0.000 ° đến 180,000 °), Cs, Cp: ± (0,00000 p để 9,99999 GF) D: ± (,00000-9,99999), Y: (0,000 n để 9,99999 GS) G, B: ± (0,000 n để 9,99999 GS), Δ%: ± (0.000% đến 999.999%) |
| Độ chính xác cơ bản | Z: ± 0,65% rdg. θ: ± 0,38 ° |
| Tần suất đo | 1 MHz đến 3 GHz (độ phân giải cài đặt 100 kHz) |
Thiết bị đo trở kháng IM7587
Độ chính xác cao và khả năng đa kênh của máy đo Hioki IM7587
Máy đo trở kháng Hioki IM7587 có độ chính xác cao và khả năng đa kênh tiện dụng.
Với độ chính xác cơ bản lên tới 0,65%.
Cung cấp tối đa lên tới 70 kênh.
Đo điện trở suất thấp, điện áp hở chỉ không quá 4mV
Tốc độ đo cao chỉ 0,5 ms.
Thông tin bổ sung
| Hãng sản xuất |
|---|
Đánh giá (1)
5
100% | 1 đánh giá
4
0% | 0 đánh giá
3
0% | 0 đánh giá
2
0% | 0 đánh giá
1
0% | 0 đánh giá
pv huy –
Hioki IM7587-01 Máy phân tích trở kháng
Hioki_IM7587-02_TN
IM7587-01 Thiết bị phân tích trở kháng Kết nối cáp 2m đi kèm
Tần số nguồn thử nghiệm 1 MHz đến 3 GHz
Tốc độ thử nghiệm nhanh nhất là 0.5 msec (thời gian đo tương tự)
Độ biến thiên giá trị đo được 0,07% (Khi đo một cuộn dây 1 nH ở 3 GHz)
± 0,65% rdg. độ chính xác cơ bản
Kích thước nửa thân máy và đầu thử có kích thước bằng lòng bàn tay
IM7587-01 Thiết bị phân tích trở kháng Kết nối cáp 2m đi kèm
Máy đo trở kháng Hioki LCR và các thiết bị phân tích trở kháng dao động từ các thiết bị 1mHz đến 3GHz cho phù hợp với một loạt các ứng dụng trong thử nghiệm các linh kiện điện tử. Máy phân tích trở kháng IM7587 cung cấp thời gian đo lường hàng đầu là 0,5ms trên dải tần số 1MHz đến tần số 3GHz và độ ổn định cao, làm cho nó lý tưởng cho R & D cũng như sản xuất khối lượng lớn các hạt chip ferit và cuộn cảm chip.
Thiết kế nâng cao để kiểm tra đáng tin cậy
Đo lường ổn định trên phạm vi rộng
HiokiIM7587_desc1
Đầu thử nghiệm cho IM7583, IM7585 và IM7587
Để đạt được các đặc điểm tần số thuận lợi, chúng tôi cẩn thận thực hiện thiết kế đúng với các nguyên tắc cơ bản của chúng tôi cho các mạch riêng lẻ, bảng vẽ và cấu trúc vỏ. Chúng tôi cũng sử dụng phân tích số và xác minh chiều sâu để tối ưu cấu trúc lá chắn và hình dạng của mô hình bảng nội bộ, do đó phù hợp mọi công nghệ cần thiết để đạt được các đặc tính tần số tối ưu từ 100 kHz đến 3 GHz vào một thân máy nhỏ gọn. Đối với các đầu đo kiểm tra đầu, để cải thiện độ chính xác đo của chúng trên một phạm vi rộng, chúng tôi sử dụng các đầu nối 3,5 mm (0,14 in) với dải tần rộng, cũng có khả năng tháo tốt hơn so với các đầu nối vi sóng khác.
Công nghệ đo lường bổ sung tính ổn định cao
HiokiIM7587_desc2
Phần đo sử dụng bộ chuyển đổi A / D có độ phân giải cao. Bằng cách kiểm soát mức và tần số của tín hiệu đầu vào, phạm vi động của bộ chuyển đổi A / D có thể được sử dụng cho phép đo tối đa, đạt được với phạm vi trở kháng rộng và biến thiên tối thiểu. Trong FPGA phụ, được xây dựng thành các mạch tương tự, bộ lọc kỹ thuật số được áp dụng tối ưu cho mỗi mạch tắt tiếng ồn. Tại FPGA chính, tính toán điểm nổi 64-bit được đặt qua một đường ống nhiều lớp để đạt được xử lý tính toán tốc độ cao với một chút sai sót. Điều này giúp tăng tính ổn định và tốc độ đo.
Lá chắn rắn lớn để cải thiện hiệu suất
HiokiIM7587_desc3
Mỗi phần sử dụng một lá chắn rắn được chạm khắc để phù hợp với mô hình trên bo mạch hoặc hình dạng IC, do đó giảm khớp nối bên trong. Lá chắn cũng làm giảm bức xạ bên ngoài và cải thiện khả năng chống ồn, đáp ứng một mức độ cao của EMC, mặc dù là nhẹ nhất trong lớp của nó.